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更新時(shí)間：2023-08-18
光學(xué)傳遞函數(shù)測(cè)試儀應(yīng)用于可見光、紅外、（單）雙無(wú)限（無(wú)焦）、有限系統(tǒng)的測(cè)量和評(píng)價(jià)。除光學(xué)傳遞函數(shù)外，它還可以提供焦距、單項(xiàng)像差、視場(chǎng)等參數(shù)的測(cè)量。傳函測(cè)試儀目前被廣泛應(yīng)用于光學(xué)鏡頭、像增強(qiáng)器、CCD攝像機(jī)、紅外成像系統(tǒng)等其它成像系統(tǒng)的像質(zhì)評(píng)價(jià)和相關(guān)參數(shù)測(cè)量，可以將測(cè)量結(jié)果以數(shù)據(jù)的方式顯示和記錄，更便于進(jìn)行處理和對(duì)比。
光學(xué)傳遞函數(shù)測(cè)試儀介紹
1）功能
測(cè)試光學(xué)系統(tǒng)、鏡頭、器件的調(diào)制傳遞函數(shù)MTF、相位傳遞函數(shù)PTF、焦距EFL、截距FFL、*佳焦面、畸變、場(chǎng)曲、色差、像散、相對(duì)透過(guò)率等。
2）MTF測(cè)試范圍
UVB | Ultra-Violet B | 193 - 360 nm |
NUV | Near Ultra-Violet | 325 - 500 nm |
VIS | Visible | 400 - 700 nm |
NIR | Near Infra-Red | 700 - 1000 nm |
SWIR | Short-Wave Infra-Red | 1 - 3 um |
MWIR | Medium-Wave Infra-Red | 3 - 5 um |
LWIR | Long-Wave Infra-Red | 8 - 12 um |
3）技術(shù)規(guī)格
光譜范圍 | 350nm-1000nm，1-3um，3-5um，8-12um |
大離軸角度 | ±90° |
焦距范圍 | 3-1000mm |
可測(cè)物鏡口徑 | 5-200mm |
空間頻率范圍 | 0-1600lp/nm（350nm-1000nm）；0-100 lp/nm（1-3um）； 0-60 lp/nm（3-5um，8-12um） |
MTF測(cè)量精度 | ±5’ |
MTF測(cè)量重復(fù)性 | ±0.01 |
焦距測(cè)量精度 | 優(yōu)于±0.5% |
畸變測(cè)量精度 | 優(yōu)于±0.5% |
場(chǎng)曲測(cè)量精度： | 優(yōu)于±5um |
色散測(cè)量精度 | 優(yōu)于±0.002dpt |
測(cè)查測(cè)量精 | 優(yōu)于±5um |
光學(xué)傳遞函數(shù)測(cè)試儀系統(tǒng)組成
反射式準(zhǔn)直鏡，光束折疊鏡、擺臂，紅外探測(cè)器（1-3umPbS，3-5um8-12umMCT），紅外光源，紅外濾光片，紅外目標(biāo)（狹縫），像分析器調(diào)焦、視場(chǎng)、垂直移動(dòng)平臺(tái)，信號(hào)斬波器，信號(hào)處理器，平臺(tái)控制器，計(jì)算機(jī)及軟件。
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